高速線陣CMOS探測(cè),高速探測(cè)器類(lèi)型:寬譜響應(yīng)高速近紅外探測(cè)器、寬譜響應(yīng)高速可見(jiàn)探測(cè)器、高靈敏高速可見(jiàn)探測(cè)器等。
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產(chǎn)品分類(lèi)18698665927
SHG100非線性SHG測(cè)試系統(tǒng)電控位移臺(tái):行程范圍20x20mm。支持同步觸發(fā)掃描,用于SHG成像。
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雙光子吸收測(cè)試,Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100抖動(dòng)消除:參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集;功率檢測(cè)范圍:50 nW-40 mW。
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超快陰影泵浦探測(cè),飛秒陰影泵浦探測(cè),超快泵浦探測(cè)陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調(diào)節(jié)pump和probe光之間的光程差來(lái)進(jìn)行測(cè)試。首先激光打在樣品上,樣品表面會(huì)產(chǎn)生一定程度的損毀,由于本過(guò)程很快(p...
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晶圓位錯(cuò)缺陷檢測(cè),MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)明場(chǎng)/PL檢測(cè)類(lèi)型:明場(chǎng)缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
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鈣鈦礦組件效率優(yōu)化方案:鈣鈦礦疊層電池表征,鈣鈦礦太陽(yáng)能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng)檢測(cè)時(shí)間<10 min(10cm*10cm) 空間分辨率20 μm/100μm。
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熒光壽命成像,晶圓位錯(cuò)缺陷檢測(cè),SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng):晶圓襯底質(zhì)量(載流子壽命)高速成像,快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
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碳化硅襯底檢測(cè),碳化硅成像檢測(cè),碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng):最高檢測(cè)速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類(lèi)識(shí)別。
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可調(diào)諧納秒脈沖染料激光器這款可調(diào)諧、窄線寬的染料激光器采用了緊湊的一體化設(shè)計(jì),并配備有堅(jiān)固的金屬外殼,從而保證了穩(wěn)定的性能。它可以根據(jù)需求進(jìn)行定制,以滿足應(yīng)用的要求。
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